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AWOS—SL02圖像冠層分析儀

一、功能  

 廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。

二、原理和方法

  采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。

三、特點(diǎn)

1.非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)

2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）

3.手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭，

4.隨身攜帶的筆記本計(jì)算機(jī)可以幫助你正確選點(diǎn)取樣，即時(shí)決定圖像的取舍

5.由計(jì)算機(jī)電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)

6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)）。對不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí)，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件

7.通過USB接口直接將測點(diǎn)圖像顯示在計(jì)算機(jī)上，可以在野外即時(shí)觀察圖像，選擇合理的測點(diǎn)，將圖像存貯。

8.半球圖象上可以設(shè)計(jì)任何地點(diǎn)、任何時(shí)間的太陽視運(yùn)動軌跡，以及冠層內(nèi)任意時(shí)刻的受光狀況。

四、技術(shù)參數(shù)

1.鏡頭角度：150°

2.分辨率：768×494pix

3.測量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個(gè)區(qū)域，方位角360°亦可分割成十個(gè)區(qū)域。

4．PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400～700nm。   測量范圍0～2700μmol/m²•s

5.分析軟件：專業(yè)AWOS-SL02軟件。

6.顯示和內(nèi)存：7英寸華碩筆記本。

7.電 池：電腦電池。

8.傳輸接口：USB

9.工作溫度：0～55℃